Sigma 系列产品

用于清晰成像的灵活探测

1、利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。

2、利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

3、利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

自动化加速工作流程

1、4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

2、首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

3、接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。

高级分析型显微镜

1、将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

2、在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

3、获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。