工业CT与X射线

工业计算机断层扫描（CT）为您提供了全新的洞见，让您可以快速采集所有内部结构的体积。蔡司是快速CT的先驱，并且能够在生产周期中对组件进行完整的以体积为基础的检查。

X射线技术可让无形变得有形，这是不言而喻的事实。它开启了质量保证的全新可能，能够为客户带来显著的附加值，但这一事实鲜为人知。下面让我们为您解释这一切！

1、一次扫描——全面确定：测量、分析并检测坐标测量机无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。

2、借助X射线，您可以无损切割部件并看到内部结构！

3、您不再需要使用复杂的夹具。这为您节省了时间和成本！

4、通过使用计算机断层扫描系统（CT）扫描所有内部和外部结构，即使没有可用的CAD模型，也可以复制部件。

X射线技术为无形的东西提供了全新的见解。您可以快速、无损地采集、分析、测量和检测内部结构。

仔细查看每个细节

汽车、航空航天、医疗技术、电子产品、消费品——每个行业都有自己的制造过程，以及通常肉眼看不见的不同潜在缺陷。X射线部件开辟了全新的潜在应用——从检查内部缺陷和内部结构的尺寸测量到结构材料分析。

测量
标称/实际比较	尺寸控制	壁厚分析	模具和过程优化	开发与逆向工程
通过色差比较可以看到与CAD模型或主要部件的偏差。	借助计算机断层扫描，只需一次扫描即可检查复杂的内部和外部特征的尺寸精度。	颜色编码表示内部结构的壁厚。	部件的全面检查可提供有关模具状态和生产过程的有意义的信息。	您可以轻松地用3D体积数据创建CAD模型——这大大加快了产品开发和逆向工程过程。

检测
缺陷分析	组装控制	接头技术控制	电子测试
您可以快速、轻松地检测出腔体、孔隙、裂缝和其他缺陷。	检查组装部件的功能和拟合度。	仅需一次扫描，您就可以查看焊接、锡焊、胶合或铆接接头是否真正无瑕疵。	使用X射线检查电子元件（例如电路板或电池）时，可以迅速看到缺陷。

分析
结构分析	原位和4D分析	粗糙度分析	纤维复合材料分析	晶粒度和分布分析
得益于高分辨率的X射线显微镜，3D结构表征提供了重要的见解。	通过原位和4D分析，可以分析材料在外部影响下以及随时间推移的表现方式。	粗糙度分析可以用于分析外部和内部结构。	分析纤维复合材料可以直观地显示复合材料中不同元素的3D分布和方向。	晶粒度和分布是确定硬度和强度的决定性因素。这就是为什么分析它们很重要。