蔡司 Xradia 610 & 620 Versa
拓展您的探索极限
作为Xradia Versa系列中前沿的产品,蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。
基于高分辨率和衬度成像技术,Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。
优势
扩大了微米级和纳米级CT解决方案的应用范围
- 1、无损亚微米级分辨率显微观察
- 2、在不影响分辨率的情况下可实现更高通量和更快的扫描
- 3、最高空间分辨率500nm,最小体素40nm
- 4、可在不同工作距离下对不同类型、不同尺寸的样品实现高分辨率成像
- 5、原位成像技术,在受控环境下对样品微观结构的动态演化过程进行无损表征
- 6、可随着未来的创新发展进行升级和扩展
更高的分辨率和通量 | 实现新的自由度 | 优异的4D/原位解决方案 |
传统断层扫描技术依赖于单一几何放大,而Xradia Versa则将采用光学和几何两级放大,同时使用可以实现更快亚微米级分辨率的高通量X射线源。大工作距离下高分辨率成像技术(RaaD)能够对尺寸更大、密度更高的样品(包括零件和设备)进行无损高分辨率3D成像。此外,可选配的平板探测器技术(FPX)能够对大体积样品(重达25 kg)进行快速宏观扫描,为样品内部感兴趣区域的扫描提供了定位导航。 |
运用业界出色的3D X射线成像解决方案完成前沿的科研与工业研究 :凭借最大化利用吸收和相位衬度,帮助您识别更丰富的材料信息及特征。运用衍射衬度断层扫描技术(LabDCT Pro)揭示3D晶体结构信息。先进的图像采集技术可实现对大样品或不规则形状样品的高精度扫描。运用机器学习算法,帮助您进行样品的后处理和分割。 |
蔡司Xradia 600 Versa系列能够在可控环境下进行材料3D无损微观结构表征的动态过程。凭借Xradia Versa在大工作距离下仍可保持高分辨率成像的特性,可将样品放置到样品舱室或高精度原位加载装置中进行高分辨率成像。Versa可与蔡司其它显微镜无缝集成,解决多尺度成像方面的挑战。 |
应用案例 |
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锂离子电池 | |||
典型任务和应用
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完整的圆柱电池 (160 kV) – 焊接毛刺、金属夹杂物、导电层的褶皱和扭结。 |
大软包电池(120kV) — 失效分析、膨胀、润湿、电解液析气 |
小软包电池(80kV) — 原位微结构、阴极颗粒级老化效应,分离器层 |
小软包电池:0.4x 概览扫描;4x 大工作距离下的高分辨率;20x 大工作距离下的高分辨率 |
电子设备与半导体封装 | |||
典型任务和应用
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显示2.5D封装中的C4凸块、TSV和铜微柱凸块,从而以体素尺寸1 µm的高分辨率查看封装模组内部的情况 |
2.5D封装的虚拟切片显示了C4凸块中的焊料裂纹和孔隙 |
10 mm x 7 mm x 1 mm 封装内的DRAM封装模组内部连接情况,其中包含一个4模堆栈。以三维、0.8µm/体素尺寸轻松显示焊料缺陷 |
DRAM封装中微凸块的虚拟切片。TSV的直径 6μm,微凸块的平均直径35µm。可见2μm的小型焊料孔隙 |
增材制造 | |||
典型任务和应用
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3D打印管道(Ti-6Al-4V)的表面粗糙度评估;以约1.7 mm体素在约3.4 mm面积获得的高分辨率扫描 |
以3.9µm体素分辨率对不同A205 AM粉末质量的成像 |
AM制造铝齿轮的内部结构;3 µm 体素分辨率成像用于观察未熔融颗粒、高阻抗杂质和小孔隙 |
Ti-6Al-4V试样的ISO 25178 表面粗糙度评估。XRM与蔡司Smartproof 5快速转盘共聚焦显微镜的结果非常相似 |
材料研究 | |||
典型任务和应用
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增材制造的格状结构 |
在多个尺度进行的多孔泡沫玻璃绝缘成像 |
碳纤维增强聚合物基复合材料 |
混凝土中多相结构的高分辨率断层扫描和相分割结果 |
原材料 | |||
典型任务和应用
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从约26000个黄铁矿颗粒中鉴定的单个金粒 |
砂岩岩心的多尺度无损表征,显示高质量的无损内部层析成像和完整的孔隙尺度分析研究(显示孔隙分离) |
分块橄榄石的传统吸收衬度图像 |
用LabDCT Pro在分块橄榄石上鉴定单个亚晶体取向 |
生命科学 | |||
典型任务和应用
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花朵的XRM显微图像以全新的3D视图呈现了其组成结构。可以辨认出萼片(黄色)和花瓣(紫色) |
蜻蜓的原生结构成像,无需任何样品制备和切片 |
种子具有非常坚实和紧凑的结构,其内部很难作为一个整体来成像。这张图像显示了预成形的种子叶片,它将包含植物进一步生长所需的能量 |
土壤中的植物根系:可以看出根系是土壤中的主要结构,由不同大小和形状的颗粒组成。体素尺寸:5.5 µm |